| ●仕様 |
LE-200J |
| 測定方式 |
電磁誘導式 |
| 測定対象 |
磁性金属上の非磁性被膜 |
| 測定範囲 |
0～1500μmまたは60.00mils |
| 測定精度 |
15μm未満：±0.3μm、15μm以上：±2％ |
| 分解能 |
100μm未満：0.1μm、100μm以上：1.0μm |
| 適合規格 |
JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO
19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 |
| 統計機能 |
測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号 |
| プローブ |
一点接触定圧式（LEP-J） |
| 表示方法 |
デジタル（LCD、表示最小桁0.1μm） |
| 外部出力 |
RS-232Cインターフェース（転送速度2400bps） |
| 電源 |
AC100V（50/60Hz）または
電池1.5V（単3アルカリ）本体部×6、プリンタ部×4 |
| 寸法・質量 |
120（W）×250（D）×55（H）mm、1.0kg |
| 付属品 |
標準板、鉄素地、標準板ケース、電池1.5V（単3アルカリ）、ACアダプタ、プローブアダプタ、プリンタ用紙、キャリングケース |
| オプション |
L字型プローブ（LEP-21L）、RS-232C接続ケーブル、データ管理ソフト「データロガーKLD-01」、「McWAVE Lite」、「McWAVE
Standard」、「McWAVE Professional、「MultiProp」 |
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