ケット科学研究所　デュアルタイプ膜厚計 LZ-990「エスカル」

デュアルタイプ膜厚計LZ-990「エスカル」はシンプルな小型膜厚計です。しかしながら膜厚管理に必要な機能は充実し、アプリケーション・メモリ（検量線メモリ）機能、測定データ・メモリ、膜厚管理の上下限設定、簡単な統計処理、データ出力など15種の機能を装備しています。磁性金属に施された被膜厚測定と、非磁性金属に施された被膜厚等の測定が可能です。しかも、素材を判別しその測定モードへ自動的に切り替わります。プリンタや測定スタンド、外部出力ケーブルなどのオプションも充実しています。

●仕様	LZ-990「エスカル」
測定方式	電磁・渦電流式兼用（自動判別機能付き）
測定対象	磁性金属上の非磁性被膜、および非磁性金属上の絶縁被膜
測定範囲	0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils
測定精度	50μm未満±1μm、50μm以上1000μm未満±2％ 1000μm以上2000μm未満±3％
適合規格	電磁誘導式:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5、ASTM E 376 渦電流式:JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5、ASTM E 376
分解能	100μm未満0.1μm100μm以上1μm
表示方法	デジタル（バックライト付LCD、表示最小桁0.1μm）
データメモリ	約1000点
アプリケーションメモリ	電磁式・渦電流式各8種　計16本の検量線を記憶
電源	電池1.5V （単4 アルカリ）× 2
消費電力	40mW（バックライト非点灯時）
使用温度範囲	0 ～ 40℃
機能	検量線メモリ（アプリケーション・メモリ）、測定データメモリ、データ削除、データ出力、ロット区分、自動電源ON/OFF、機能、時計機能、上下限設定、統計計算、バックライト機能、単位設定、等の各種機能15 種
外部出力	パソコン（USB）、プリンタ（RS-232C）に出力可能
寸法・質量	82（W）× 99.5（D）× 32（H）mm、約160g
付属品	ゼロ板ホルダ（鉄素地、アルミ素地）、標準板（50、100、1000μm）、キャリングポーチ、電池1.5V（単4アルカリ）×2、リストストラップ
オプション	標準板（付属品以外の厚さ）、測定スタンドLW-990、プリンタVZ-330、プリンタケーブル、USBパソコンケーブル、透明保護カバー、データ管理ソフト：「データロガー LDL-01」

株式会社ケット科学研究所

デュアルタイプ膜厚計 LZ-990「エスカル」